Onto Innovation представила новую систему инспекции полупроводников

Компания — разработчик технологий для производства полупроводников Onto Innovation Inc. (NYSE: ONTO) представила новую систему диагностики для крупномасштабных заводов по выпуску чипов. У системы есть особенности, которые могут сделать ее новой точкой роста для Onto Innovation.

Новая метрологическая (предназначенная для проверки и тестирования) система под названием Firefly G3 может обнаруживать скрытые дефекты в сложных многослойных подложек для микросхем. Такие подложки содержат множество медных проводников, слои стекла и других материалов. Даже крохотные дефекты, например пыль или пузыри воздуха, могут привести к неожиданной поломке чипа.

 

Особенностью Firefly G3 является изначально запланированная высокая эффективность при крупномасштабном выпуске полупроводников, в том числе нового поколения.

Onto рассчитывает на высокие продажи системы G3 на фоне роста спроса на чипы для ИИ, интернета вещей (IoT), подключенных автомобилей и другой техники.

Поставки системы начнутся до середины 2024 г.

Надо отметить, что новая система спроектирована так, чтобы быть наилучшим выбором для клиентов, у которых уже есть или планируется к закупке литографическая система Onto JetStep.

Таким образом Onto теперь может предложить высокоточную систему наложение слоев, а также систему для тестирования полученных компонентов для чипов.

Рост спроса на сложные чипы продолжается, несмотря на сокращение расходов на ИТ в прошлом году. В целом, адресный рынок систем для «упаковки» (сборки) чипов может расти со среднегодовым темпом более 25% до 2028 г., по прогнозам информационной платформы TechInsights, которая следит за рынком полупроводников.

На торгах 12 января акция ONTO стоила $144,23. Рыночная капитализация составила $7,08 млрд.